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推拉力測試機在IGBT功率模塊封裝中的關(guān)鍵作用解析

 更新時間:2025-05-14 點擊量:120

IGBT(絕緣柵雙極型晶體管)功率模塊廣泛應(yīng)用于新能源、電動汽車、工業(yè)變頻等領(lǐng)域,其封裝可靠性直接影響模塊的性能和壽命。在封裝工藝中,焊接強度、引線鍵合質(zhì)量、端子結(jié)合力等關(guān)鍵參數(shù)需要通過精密測試來驗證。

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Beta S100推拉力測試機作為一種高精度的力學(xué)測試設(shè)備,可有效評估IGBT模塊的封裝可靠性,確保產(chǎn)品符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。本文科準(zhǔn)測控小編將詳細介紹IGBT功率模塊封裝測試的原理、相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、測試設(shè)備及操作流程,為工程師提供實用的測試參考。

 

一、測試原理

IGBT功率模塊的封裝測試主要關(guān)注以下幾個方面:

焊接強度測試:評估芯片與基板(如DBC)之間的焊接層是否滿足機械強度要求。

引線鍵合測試:測量鍵合線(如鋁線、銅線)與芯片或端子的結(jié)合力,防止因鍵合不良導(dǎo)致失效。

端子結(jié)合力測試:檢測模塊外部端子與基板的連接強度,確保在振動或熱循環(huán)條件下不發(fā)生脫落。

推拉力測試機通過施加垂直方向的拉力(Pull Test)或水平方向的推力(Shear Test),測量破壞力值,從而評估封裝結(jié)構(gòu)的可靠性。

二、測試標(biāo)準(zhǔn)

MIL-STD-883(美guojun用標(biāo)準(zhǔn)):規(guī)定鍵合強度的測試方法及合格判據(jù)。

JESD22-B104JEDEC標(biāo)準(zhǔn)):針對電子器件的機械強度測試規(guī)范。

IPC-9701:評估電子組裝件的機械可靠性,包括焊接和鍵合強度。 

三、測試設(shè)備和工具

1、Beta S100推拉力測試機

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A、設(shè)備特點

a高精度力傳感器:量程可達500N,分辨率0.01N,滿足微焊點與粗端子測試需求。

b、多功能測試模式:支持拉力、推力、剝離力等多種測試方式。

c、自動化操作:配備高清顯微鏡和軟件控制,實現(xiàn)精準(zhǔn)定位與數(shù)據(jù)記錄。

2、推刀或鉤針

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3、常用工裝夾具

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四、測試流程

步驟一、測試前準(zhǔn)備

1、設(shè)備檢查

確認(rèn)Beta S100推拉力測試機電源連接正常,力傳感器校準(zhǔn)有效(校準(zhǔn)周期建議≤6個月)。

檢查測試機夾具(鉤針、推刀、夾持治具)無磨損,確保與樣品接觸部位清潔。

啟動配套軟件,選擇對應(yīng)測試程序。

2、樣品預(yù)處理

清潔:用無水乙醇擦拭IGBT模塊表面,去除氧化層或污染物(尤其鍵合線、焊點區(qū)域)。

固定:將模塊放置在測試平臺,使用真空吸附或?qū)S脢A具固定,避免測試時位移(示例:扭矩≤0.5N·m)。

顯微鏡校準(zhǔn):通過20~50倍光學(xué)顯微鏡定位測試點,調(diào)整焦距至鍵合線/焊點清晰可見。

步驟二、鍵合拉力測試(Wire Pull Test

1、 參數(shù)設(shè)置

image.png2操作步驟

a、鉤針定位

移動鉤針至鍵合線弧頂正下方,確保鉤針與線材呈90°垂直(誤差≤±2°)。

軟件微調(diào)Z軸高度,使鉤針輕微接觸鍵合線(預(yù)緊力≤0.01N)。

b、執(zhí)行測試

啟動測試程序,鉤針以恒定速度向上拉伸,實時顯示力-位移曲線(圖1)。

當(dāng)曲線出現(xiàn)峰值后驟降(鍵合線斷裂或脫落),設(shè)備自動停止并記錄最大拉力值

C、失效分析

合格:斷裂位置在鍵合線中間(非界面),且F<sub>max</sub>≥0.3N(鋁線標(biāo)準(zhǔn))。

不合格:界面脫落或F<sub>max</sub><0.15N,需排查鍵合工藝(如超聲能量、壓力參數(shù))。

步驟三、焊接剪切測試(Die Shear Test

1參數(shù)設(shè)置

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2、操作步驟

a、推刀對準(zhǔn)

將推刀移至芯片邊緣,調(diào)整高度至與DBC基板間隙50μm。

推刀與芯片邊緣平行度wu差≤   0點1°。

b、執(zhí)行剪切

啟動測試,推刀水平推進直至芯片剝離,記錄最大剪切力(F<sub>shear</sub>)。

計算剪切強度:σ=F<sub>shear</sub>/AA為芯片焊層面積)。

C、結(jié)果判定

合格:σ≥30MPaSnAgCu焊料標(biāo)準(zhǔn)),且失效模式為焊層內(nèi)聚斷裂。

不合格:界面分離或σ<20MPa,需檢查回流焊溫度曲線或焊膏活性。

步驟四、數(shù)據(jù)記錄與報告

1、統(tǒng)計分析

計算同一批次樣品的均值、標(biāo)準(zhǔn)差、CPK(過程能力指數(shù))。

2、報告輸出

生成PDF報告,附測試曲線、失效位置照片及判定結(jié)論(模板見附錄A)。

 

以上就是小編介紹的有關(guān)于IGBT功率模塊封裝測試的相關(guān)內(nèi)容了,希望可以給大家?guī)韼椭H绻€對IGBT功率模塊封裝測試圖片、測試標(biāo)準(zhǔn)、測試方法和測試原理,推拉力測試機怎么使用視頻和圖解,使用步驟及注意事項、作業(yè)指導(dǎo)書,原理、怎么校準(zhǔn)和使用方法視頻,推拉力測試儀操作規(guī)范、使用方法和測試視頻,焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題感興趣,歡迎關(guān)注我們,也可以給我們私信和留言?!究茰?zhǔn)測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。